歡迎訪問(wèn)儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司網(wǎng)站！歡迎訪問(wèn)儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司網(wǎng)站！
當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 粒子表面特性分析儀 > 美國(guó)xigo濕式比表面分析儀
相關(guān)文章
美國(guó)xigo濕式比表面分析儀專(zhuān)門(mén)為測(cè)量納米顆粒在溶劑中的濕式比表面積而設(shè)計(jì)。與傳統(tǒng)的比表面積測(cè)量技術(shù)相比，核磁共振法（NMR）具有很多的優(yōu)點(diǎn)。整個(gè)測(cè)量過(guò)程從開(kāi)始到結(jié)束僅需5分鐘，并且樣品無(wú)需稀釋?zhuān)稍镆约捌渌魏螛悠非疤幚怼cornAera可以為您節(jié)約 的實(shí)驗(yàn)時(shí)間。
地址：北京市昌平區(qū)西三旗建材城西路新龍大廈A座2010室
郵箱：cici.ding@insearch-tech.com
傳真：86-10-81706682
關(guān)于我們
公司簡(jiǎn)介 榮譽(yù)資質(zhì) 在線咨詢 聯(lián)系我們新聞中心
公司新聞 技術(shù)文章 資料下載 成功案例產(chǎn)品中心
粒子表面特性分析儀
微信客服
微信公眾號(hào)
版權(quán)所有Copyright © 2026 儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司 All Right Reserved 備案號(hào)：京ICP備16057128號(hào)-2 sitemap.xml 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸